CIM-3140MPT透磁率测量装置是一款样品透磁测量设备，主要用于磁性溅射靶材包括PTFmean、PTFwarp、PTFrange、%PTFmax、%PTFmin、%PTFmean、%PTFwarp、%PTFstdev等参数测量，并对测试结果进行统计分析，可绘制PTF曲线图、%PTF曲线图。CIM-3140MPT透磁率测量装置具有文件管理、测试和数据（图形）输出等功能，可满足用户对磁性溅射靶材的测试、数据（报告）输出及数据管理等需求。使用环境供电电源：单相200V～240V，50Hz±10%环境温度：23±5℃环境湿度：30～75%RH外磁场干扰：应绝对避免热平衡时间：10分钟请将测试工作台

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CIM-3500C磁芯功耗仪是用于磁性器件功耗测量的专用设备，可自动测量铁硅铝、铁硅、非晶、纳米晶坡莫合金、硅钢等金属磁粉芯低磁导率软磁材料及软磁铁氧体等在频率为10k～100kHz下的磁芯功耗Pc、Pcv、电压Urms、电流Irms、比视在功率Ss和损耗角δ等参数。测试系统由工控计算机、励磁电源、功率分析仪和功率补偿模块组成，系统采用功率补偿技术，最大励磁功率可达到8KVA或者15KVA，有效解决了大功率低磁导率软磁器件的功耗无法测量的问题。设备特点:1.采用计算机控制的数字化电源和标准功率表，整个测试过程自动完成。2.数字程控电源具备自主换档功能，可根据材料特性自动匹配输出档位和采样量程，

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CIM-3300P弱磁材料磁导率测量装置依据《GB/T35690-2017弱磁材料相对磁导率的测量方法》和《ASTMA342/342M-14StandardTestMethodsforPermeabilityofFeeblyMagneticMaterials》设计，可测量弱磁材料（如奥氏体不锈钢）相对磁导率µr在1.001-4.000之间的棒状或方形等弱磁样品的相对磁导率。系统采用计算机控制，可自动完成测试并生成测试报告。测试项目►测量奥氏体不锈钢等弱磁材料的相对磁导率µr.►测量范围：1.001-4.000►试样形状：可测量条状、棒状和片状试样；►试样要求：长径比＞20：1适用标准►GB/T

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